Chroma Model 8801 電氣二重層電容自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)是電氣二重層電容(EDLC)測(cè)試的最終解決方案。Chroma Model 8801 電氣二重層電容自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)包含各種不同范圍的硬件供選擇,Chroma Model 8801 電氣二重層電容自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)包含可程序直流電源供應(yīng)器、可編程直流電子負(fù)載、時(shí)序分析儀和LCR表。這套系統(tǒng)是由開(kāi)放性架構(gòu)的軟件所構(gòu)成的,讓用戶有更多的彈性組合、功能強(qiáng)大與節(jié)省成本的測(cè)試系統(tǒng),進(jìn)而適用于市面上各種不同范圍的電氣二重層電容(EDLC)。
Chroma Model 8801 電氣二重層電容自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)Electrical Double Layer Capacitor Automatic Test System (EDLC ATS)提供獨(dú)特的高效率測(cè)試命令技術(shù),可以避免相同的控制命令重復(fù)送到系統(tǒng)的硬件裝置,進(jìn)而顯著提升測(cè)試速度,也讓Chroma Model 8801 電氣二重層電容自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)對(duì)高速的生產(chǎn)應(yīng)用為最完美的選擇。
Chroma Model 8801 電氣二重層電容自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)包含符合EIAJ RC-2377標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范的精密測(cè)試執(zhí)行步驟項(xiàng)目。本系統(tǒng)提供的特殊測(cè)試編輯功能,可以讓用戶也能依據(jù)自己的需要建立新的測(cè)試項(xiàng)目,也使得用戶有能力去無(wú)限制的擴(kuò)增測(cè)試數(shù)據(jù)庫(kù)。
這套系統(tǒng)的開(kāi)放性架構(gòu)軟件還包含統(tǒng)計(jì)分析與管理功能。這些功能使系統(tǒng)有能力產(chǎn)生各式不同的測(cè)試文件與執(zhí)行系統(tǒng)的管理。系統(tǒng)所提供的統(tǒng)計(jì)報(bào)表功能是不可缺少的,這對(duì)于現(xiàn)代化工廠的質(zhì)量保證與生產(chǎn)測(cè)試是極端重要,Chroma 8801 EDLC 測(cè)試系統(tǒng)是可工作在 WindowsR2000/XP 以上的作業(yè)環(huán)境,可以提供測(cè)試工程師一個(gè)容易學(xué)習(xí)的窗口環(huán)境與允許使用微軟所提供的系統(tǒng)資源。長(zhǎng)沙艾克賽普儀器設(shè)備有限公司作為臺(tái)灣Chroma公司湖南區(qū)域的總代理,以下為長(zhǎng)沙艾克賽普儀器設(shè)備有限公司為您簡(jiǎn)單介紹Chroma Model 8801 電氣二重層電容自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的技術(shù)參數(shù)及產(chǎn)品特點(diǎn),如果您想對(duì)Chroma Model 8801 電氣二重層電容自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)有更多的了解,歡迎致電長(zhǎng)沙艾克賽普儀器設(shè)備有限公司,聯(lián)系電話:0731-84284278 84284378。更多產(chǎn)品信息歡迎點(diǎn)擊:rengken.cn。長(zhǎng)沙艾克賽普儀器設(shè)備有限公司。
Chroma Model 8801 電氣二重層電容自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)主要特色:
適用電氣二重層電容生產(chǎn)線測(cè)試,測(cè)試參數(shù)包含靜態(tài)容量(Static Capacitance)與內(nèi)部電阻(IR&ESR)(符合EIAJ RC-2377電氣二重層電容測(cè)試方式)
開(kāi)放性架構(gòu)軟件平臺(tái)
-支持含有GPIB 或 RS-232接口儀器
-測(cè)試項(xiàng)目編輯功能
-測(cè)試程序編輯功能
-統(tǒng)計(jì)分析報(bào)表編輯功能
-用戶權(quán)力設(shè)定
-測(cè)試項(xiàng)目/程序控管功能
-人員進(jìn)出系統(tǒng)紀(jì)錄
-多待測(cè)物測(cè)試能力
-支持條形碼機(jī)
符合 EIAJ RC-2377 標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范的精密測(cè)試執(zhí)行步驟項(xiàng)目(C/IR/ESR)
經(jīng)由系統(tǒng)默認(rèn)測(cè)試項(xiàng)目,可提高測(cè)試生產(chǎn)率
多頻道同步量測(cè),以減少測(cè)試時(shí)間
單一直流電源和單一直流電子負(fù)載設(shè)計(jì)
硬件保護(hù)電路
最佳成本效益比
根據(jù)用戶需求可擴(kuò)增硬件
圖形化接口 Windows®2000/XP 的作業(yè)環(huán)境